За методом аналітичної регуляризації одержано точний розв'язок векторної задачі дифракції плоскої електромагнітної хвилі на одновимірній періодичній гратці з кіральним середовищем. Показано, що за нормального падіння хвилі лише з однією поляризацією відбите поле містить хвилі обох поляризацій, що пояснюється присутністю кірального середовища, яке пов'язує дві поляризації. Вивчено характерні особливості дифракції, спричинені кіральним середовищем. Встановлено, що значний вплив на характер дифракції мають явище резонансів і процеси перерозподілення енергії, коли кількість розповсюджуваних гармонік поля в середовищах значно різниться.

Індекс рубрикатора НБУВ: В372.144

Рубрики:

Дифракція електронів в кристалах

Шифр НБУВ: Ж26988 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Індекс рубрикатора НБУВ: В372.144

Рубрики:

Дифракція електронів в кристалах

Шифр НБУВ: Ж14063 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Розглянуто застосування методу дифракції електронів низької енергії (у діапазоні від 10 до 500 еВ) для дослідження кристалографії, структури та ступеня дефектності приповерхневих шарів. Обговорено сучасні можливості даного методу та перспективи його розвитку, що виникають у процесі зіставлення експериментальних та розрахункових енергетичних або просторових профілів інтенсивності структурних дифракційних рефлексів. Проаналізовано особливості кінематичного та динамічного описання процесів електронної дифракції на ідеальних та дефектних поверхневих структурах. Особливу увагу приділено вивченню процесів генерації та відпалу статичних дефектів, які створюються іонним бомбардуванням у приповерхневій області.

Описано решение задачи дифракции на плоской периодической структуре в свободном пространстве методом задачи Римана-Гильберта и методом сингулярных интегральных уравнений. Рассмотрена функция плотности тока на лентах решетки, при помощи которой формируется задача Римана двумя способами. Представлены результаты расчета коэффициентов отражения и прохождения для рассматриваемых случаев и их лучевые диаграммы.

Досліджено слабкі спотворення структури реальних кристалів алмазу з використанням дифракції електронів з метою встановлення впливу умов росту на зміну пружно-деформованого стану в алмазах, одержаних різними методами. Розроблено ефективні методики підвищення прецизійності й інформативності методу Кікучі під час дослідження впливу розподілених у алмазах залишкових напруг на розсіяння електронів в областях багатохвильової дифракції. Автоматизовано процес точного визначення координат полюсів на картинах Кікучі з точністю приблизно до 1-го пікселя та мінімізовано суб'єктивні чинники, залежність невідповідності між картинами Кікучі даного кристала від умов експерименту. Розкрито причини, які спричиняють зміни періодів гратки синтезованих кристалів у даному напрямі. Досліджено розподіл кутових розорієнтацій між окремими кристалітами синтезованих плівок алмазу. Визначено кількісні параметри - орієнтаційні, розорієнтаційні, а також розмірні характеристики зерен.

Індекс рубрикатора НБУВ: В372.144

Рубрики:

Дифракція електронів в кристалах

Шифр НБУВ: Ж14063 Пошук видання у каталогах НБУВ 

За допомогою комп'ютерного моделювання досліджено дифракцію світла на акустичних хвилях в періодичній структурі. З'ясовано особливості розповсюдження світлових та акустичних хвиль в періодичній структурі, зокрема в її елементарній комірці (хвилеводі). Показано, що в наведеній періодичній структурі розповсюджуються лише плоскі акустичні хвилі. Показано, що наявність періодичної структури не впливає на кутовий розподіл дифракційного спектра, але впливає на амплітудний розподіл. Одержані дані порівняні з експериментом.

Індекс рубрикатора НБУВ: В372.144

Рубрики:

Дифракція електронів в кристалах

Шифр НБУВ: Ж16425 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Предложен новый подход к определению локальных деформаций в кристаллах по картинам дифракции обратно отраженных электронов (картинам Кикучи) с использованием метода гистограмм и метода дискретного двухмерного Фурье-преобразования. Определена анизотропия в распределении локальных деформаций на поверхности образцов алмаза, полученных методом температурного градиента в системе Fe - Al - C и методом наращивания в среде Mg - C + бор на поверхности монокристалла алмаза статического синтеза (Ni - Mn - C).

Построена обобщенная модель дисперсионно чувствительной дифрактометрии неидеальных кристаллов, позволяющая проводить анализ дифференциальных и интегральных картин рассеяния для произвольных эффективных толщин кристалла. Введен параметр, характеризующий эффект аномального роста относительного вклада диффузного рассеяния. Предложенная теоретическая модель может обеспечить решение обратной многопараметрической задачи восстановления характеристик сложных дефектных структур в монокристаллах, применяемых в современных нанотехнологиях.

Проведено экспериментальное изучение диагностических возможностей метода деформационных зависимостей (ДЗ) полной интегральной интенсивности динамической дифракции (ПИИДД) для монокристаллов с микродефектами в случае, когда диффузная составляющая ПИИДД может быть соизмеримой с ее когерентной составляющей или существенно превышать ее. Показано, что в этом случае ДЗ ПИИДД аномально чувствительны и уникально информативны при их использовании для определения характеристик микродефектов в многопараметрических монокристаллических системах.

Предложен новый подход определения величины средних деформаций по картинам дифракции обратно рассеянных электронов в локальных участках поликристаллических образцов с решеткой алмаза. Для анализа изменений формы и площади профиля интенсивности полос Кикучи использовано дискретное двумерное Фурье-преобразования картин Кикучи и их энергетический Фурье-спектр. Степень размытия полос на картинах Кикучи связана с величинами деформации, которые количественно описываются через изменения среднего радиального периода и площади радиального распределения энергетического спектра изображения.

Індекс рубрикатора НБУВ: В372.144

Рубрики:

Дифракція електронів в кристалах

Шифр НБУВ: ДС47322 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Індекс рубрикатора НБУВ: В372.144

Рубрики:

Дифракція електронів в кристалах

Шифр НБУВ: ДС47322 Пошук видання у каталогах НБУВ