Ключ. слова: трехволновая дифракция, эффект Бормана, одномерная деформация, аномальное прохождение рентгеновских лучей
Індекс рубрикатора НБУВ: В376.1 + В372.134

Рубрики:

Твердість. Пружність. Поширення звуку (пружних коливань) в монокристалах

Дифракція рентгенівських променів в кристалах

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Ключ. слова: периодические деформации кристалла, трехволновые дифракции, рентгеновские лучи
Індекс рубрикатора НБУВ: В376.1 + В372.13

Рубрики:

Твердість. Пружність. Поширення звуку (пружних коливань) в монокристалах

Рентгеноструктурний аналіз

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Ключ. слова: эффект окольного возбуждения, многоволновое рентгеновское аномальное прохождение
Індекс рубрикатора НБУВ: В372.31

Рубрики:

Дефекти

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Ключ. слова: метод Косселя, уравнения Такаги - Топена, периодические деформации, алмаз
Індекс рубрикатора НБУВ: В372.1

Рубрики:

Структурний аналіз твердих тіл

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Індекс рубрикатора НБУВ: В379.26

Рубрики:

Механічні властивості монокристалів напівпровідників

Шифр НБУВ: Ж26988 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Запропоновано метод визначення абсолютного значення періоду гратниці кубічних монокристалів за допомогою випадкової багатохвильової дифракції рентгенівських променів, що реалізується накладанням двох трихвильових відбивань за певної температури зразка. На прикладі кристалу кремнію продемонстровано ефективність даної методики. На основі напівкінематичного наближення теорії розсіяння рентгенівських променів розроблено алгоритм розрахунку багатохвильових дифрактограм, який дозволяє проводити більш ретельний кількісний аналіз експериментальних результатів.

Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134

Рубрики:

Дифракція рентгенівських променів в кристалах

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Продемонстрированы возможности метода Кикучи в исследовании неоднородного распределения деформаций в образцах искусственных кристаллов алмаза, выращенных при различных технологических условиях. Показаны перспективы использования геометрических параметров дифракционных картин Кикучи для определения изменения периода решетки. Использован корреляционный метод и его программная реализация определения деформаций дифракционных изображений пересечений линий Кикучи и минимизации субъективных факторов. Оптимальный выбор ядра корреляции обеспечивает высокую точность определения смещений деталей изображений. В результате определены локальные изменения структурной однородности искусственных алмазов и относительные изменения периода кристаллической решетки.

Предложен способ определения деформаций в кристаллах алмаза по анализу полос дифракции отраженных электронов на картинах Кикучи с использованием метода гистограмм. Определена анизотропия в распределении локальных деформаций на поверхности двух образцов алмаза, полученных методом температурного градиента в системе Fe - Al - C и методом наращивания в среде Mg - C + бор на поверхности монокристалла алмаза статического синтеза (Ni - Mn - C).

Исследованы образцы сварных соединений никелевых сплавов NiCrFe, содержащих трещины. Используя картины дифракции обратно отражённых электронов, полученные в сканирующем электронном микроскопе, определены деформации в локальных участках каждого образца в зависимости от расстояния до трещины, а также от распределения химических элементов, полученного с помощью рентгеноспектрального микроанализа.

Розвинуто теоретичні й експериментальні методи прецизійного визначення періодів граток та їх змін при деформації кристалу і зміні його температури. Встановлено механізми та закономірності формування багатохвильових профілів інтенсивності Х-променів на топограмах, косселеграмах, дифрактограмах азимутального сканування та дифракційних картинах Кікучі. Запропоновано нові алгоритми, програмне забезпечення. На основі кінематичної теорії розсіяння Х-хвиль розроблено метод та відповідні алгоритм і програмне забезпечення для розрахунку та графічного представлення багатохвильових дифрактограм азимутального сканування кристала в схемі Реннінгера в кристалах різного ступеня досконалості. На прикладах випадкової та компланарної багатохвильових дифракцій продемонстровано відповідність між теоретичними й експериментальними результатами. Чутливість кутових положень максимумів багатохвильової дифракції до зміни періоду гратки або довжини хвилі зростає по мірі наближення до умови компланарності багатохвильової дифракції. Ця методика вперше була вдосконалена для застосування в багатошарових системах, для яких характерна наявність градієнта періода гратки по товщині. Запропоновано нові підходи до визначення планарного розподілу локальних деформацій у кристалах з картин дифракції зворотно відбитих електронів (картин Кікучі) з використанням методу гістограм і методу дискретного двомірного Фур’є перетворення. Встановлено взаємозв'язок між змінами тонкої структури двохвильових ліній і багатохвильових областей на картинах Кікучі з особливостями будови кристалів різного походження.

Предложена новая методика определения локальных деформаций в кристаллах по картинам дифракции обратно отраженных электронов (картинам Кикучи) с использованием дискретного двумерного Фурье-преобразования. Данная методика апробирована при исследовании образцов алмаза, синтезированных при различных условиях. Полученные результаты хорошо согласуются с данными других методов.

Предложен новый подход к определению локальных деформаций в кристаллах по картинам дифракции обратно отраженных электронов (картинам Кикучи) с использованием метода гистограмм и метода дискретного двухмерного Фурье-преобразования. Определена анизотропия в распределении локальных деформаций на поверхности образцов алмаза, полученных методом температурного градиента в системе Fe - Al - C и методом наращивания в среде Mg - C + бор на поверхности монокристалла алмаза статического синтеза (Ni - Mn - C).

Запропоновано спосіб визначення компонент тензора деформацій з аналізу розподілів інтенсивності зворотно розсіяних електронів на картинах Кікучі. Досліджено деформаційний стан локальних ділянок кристала синтетичного алмазу, одержаного методом температурного градієнта в системі Fe - Al - C нарощуванням на монокристал алмазу, синтезованого у системі Ni - Mn - C. Побудовано характеристичні поверхні тензорів та еліпсоїди деформацій, проаналізовано особливості їх розподілу по кристалу. Діагональні компоненти тензора визначали зі змін розподілів інтенсивності окремих смуг, інші компоненти - зі зміщення осей зон відносно їх положень на еталонній картині Кікучі.

Исследовано деформационное состояние локальных областей в окрестности трещин в сварном шве никелевого сплава. Предложена методика определения компонент тензора локальных деформаций в отдельных зернах поликристаллических образцов. Диагональные компоненты тензора определялись по изменениям распределений интенсивности отдельных полос, другие компоненты - из смещения осей зон относительно их положений на эталонной картине Кикучи. Построены характеристические поверхности тензоров деформаций, а также проанализированы особенности их планарного распределения в окрестностях трещин сварных швов.

Для визначення значень середніх деформацій у локальних областях поблизу тріщин зварного шва нікелевого сплаву Ni-Cr-Fe у ході аналізу картин Кікучі використано методи енергетичного Фур'є спектра та дискретного двовимірного Фур'є перетворення. Суміщення зображень Кікучі за допомогою генетичних алгоритмів і виділення білого гаусівського шуму надало можливість більш повно врахувати вплив інструментальних факторів на формування картин дифракції відбитих електронів.

Предложен новый подход определения величины средних деформаций по картинам дифракции обратно рассеянных электронов в локальных участках поликристаллических образцов с решеткой алмаза. Для анализа изменений формы и площади профиля интенсивности полос Кикучи использовано дискретное двумерное Фурье-преобразования картин Кикучи и их энергетический Фурье-спектр. Степень размытия полос на картинах Кикучи связана с величинами деформации, которые количественно описываются через изменения среднего радиального периода и площади радиального распределения энергетического спектра изображения.

Определена средняя деформация в локальных областях синтетического алмаза с помощью энергетического Фурье-спектра при анализе цифровых картин Кикучи. Степень размытия дифракционных полос и их пересечений на изображениях, вызванных деформациями, количественно описаны через средний пространственный период и площадь радиального распределения энергетического спектра. Планарное распределение локальных деформаций позволило определить их анизотропию в кристалле по величине и направлению.

Определена средняя деформация в локальных областях синтетического алмаза с помощью энергетического Фурье-спектра при анализе цифровых картин Кикучи. Степень размытия дифракционных полос и их пересечений на изображениях, вызванных деформациями, количественно описаны через средний пространственный период и площадь радиального распределения энергетического спектра. Планарное распределение локальных деформаций позволило определить их анизотропию в кристалле по величине и направлению.