Описано геоінформаційну аналітичну систему державного моніторингу поверхневих вод Вінниччини, розроблену у Вінницькому національному технічному університеті спільно з екологічними установами області, зокрема Держуправлінням екології та природних ресурсів. Викладено основні прийоми роботи з системою, показано, що вона є складовою загальної системи державного моніторингу довкілля регіону.

Описана геоинформационная аналитическая система государственного мониторинга поверхностных вод Винницкой области, разработанной в Винницком национальном техническом университете совместно с экологическими учреждениями области, в частности Госуправлением экологии и природных ресурсов. Изложены основные приемы работы с системой, показано, что она является составной частью общей системи государственного мониторинга окружающей среды региона.

Розглянуто теоретичні та прикладні аспекти розробки математичних і геоінформаційних моделей, алгоритмічного та програмного забезпечення регіональних комп'ютеризованих геоінформаційних систем державного моніторингу поверхневих вод (СДМПВ). Запропоновано геоінформаційну аналітичну СДМПВ Вінниччини. Проаналізовано особливості розв'язання задач оцінювання, моделювання та управління якісними показниками поверхневих вод регіону на підставі даних СДМПВ.

Рассмотрены теоретические и прикладные аспекты разработки математических и геоинформационных моделей, прикладного и программного обеспечения региональных компьютизированных геоинформационных систем государственного мониторинга поверхностных вод (СГМПВ). Предложена геоинформационная аналитическая СГМПВ Винницкой области. Проанализированы особенности решения задач оценивания, моделирования и управления качественными показателями поверхностных вод региона на основе данных СГМПВ.

Предложена и экспериментально апробирована модель динамической дифракции для описания полученных экспериментально в геометрии Лауэ в приближении "толстого" кристалла деформационных зависимостей (ДЗ) полной интегральной отражательной способности (ПИОС) монокристаллов, содержащих хаотически распределенные дефекты (ХРД). Установлена избирательная чувствительность участков ДЗ ПИОС, характеризующихся высокой степенью упругого цилиндрического изгиба монокристалла, к величине коэффициента эффективного поглощения за счет ухода части интенсивности в диффузный фон при рассеянии на дефектах, вследствие резкого роста с увеличением изгиба и дефектности кристалла относительного вклада в ПИОС диффузной компоненты. Показано, что эта избирательность чувствительности позволяет в случае ХРД одного типа определять средний радиус и концентрацию ХРД, используя любое из доступных отражений рентгеновского излучения, а при использовании остальных доступных отражений или случаев дифракции обеспечивает диагностику нескольких типов дефектов.

Получены аналитические выражения для дифференциальных коэффициентов отражения и прохождения сильных брэгговских волн в случае геометрии дифракции по Лауэ в тороидально изогнутых монокристаллах с хаотически распределенными микродефектами. Исследовано влияние деформации на форму угловых зависимостей этих коэффициентов в случае тонкого кристалла. Даны асимптотические оценки для коэффициентов отражения и прохождения. Проведено сравнение дифракционных кривых, построенных с помощью численного расчета и согласно аналитической оценке.

Построена динамическая теория диффузного рассеяния рентгеновских лучей в тороидально изогнутых монокристаллах с хаотически распределенными микродефектами. Получено аналитическое выражение для диффузной компоненты отражательной способности тороидально изогнутого монокристалла, содержащего однородно распределенные дефекты кулоновского типа. Проанализировано влияние макроскопической деформации на картины распределения интенсивности диффузного рассеяния от сферически симметричных кластеров.

Построена динамическая теория дифракции рентгеновских лучей для квазидиффузной компоненты отражательной способности тороидально изогнутого монокристалла, содержащего однородно распределенные микродефекты. В случае симметричной геометрии дифракции по Лауэ построены угловые зависимости квазидиффузной компоненты при различных радиусах упругого изгиба кристалла кремния. Получены аналитические выражения для коэффициентов эффективного поглощения сильных брэгговских волн вследствие квазидиффузного рассеяния. Дана асимптотическая оценка квазидиффузной компоненты отражательной способности тороидально изогнутого кристалла.

Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134

Рубрики:

Дифракція рентгенівських променів в кристалах

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Предложен и экспериментально апробирован метод определения параметров дефектов монокристаллов, основанный на совместном анализе деформационных зависимостей (ДЗ) полной интегральной отражательной способности (ПИОС), получаемых в приближениях "тонкого" и "толстого" кристаллов в геометрии Лауэ. Использованы и усовершенствованы полуфеноменологические модели ДЗ ПИОС, разработанные в рамках динамической теории рассеяния рентгеновских лучей. Установлена физическая природа высокой информативности предложенного метода.

Проведено узагальнення динамічної теорії розсіяння рентгенівських променів для геометрій дифракції за Лауе та за Бреггом в макроскопічно деформованих кристалах з випадково розподіленими мікродефектами на випадок сильної деформації в тороїдально вигнутих кристалах. Одержано аналітичні вирази для бреггівської, квазідифузної та дифузної компонент відбивної здатності тороїдально вигнутого кристала з дефектами. Встановлено, що поява трьох стаціонарних точок замість однієї відповідає виникненню одразу трьох активних точок збудження на одній з двох дисперсійних гілок, номер якої залежить від знаку ефективного радіуса вигину. Показано, що одержаний теоретичний вираз для коефіцієнта відбиття тороїдально вигнутого та сильно деформованого кристала у випадку геометрії дифракції за Бреггом дозволяє проводити адекватну характеризацію складних дефектних структур в реальних монокристалах, які створюються різними типами мікродефектів і макроскопічними деформаціями.

В случае сильного изгиба построена динамическая теория дифракции рентгеновских лучей для брэгговской и квазидиффузной компонент отражательной способности тороидально изогнутого монокристалла, содержащего однородно распределенные микродефекты. Получены аналитические выражения для брэгговской и квазидиффузной составляющих, отражательной способности кристалла. Данная задача решена с применением наиболее сложного варианта метода перевала для случая слияния двух точек перевала.

Індекс рубрикатора НБУВ: Ж620 + В372.212.1

Рубрики:

Нанотехнології

Рентгенівський метод (метод кутів Брегга)

Шифр НБУВ: Ж23022 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134

Рубрики:

Дифракція рентгенівських променів в кристалах

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Індекс рубрикатора НБУВ: В372.31 + В374

Рубрики:

Дефекти

Оптичні властивості твердих тіл. Оптичні властивості кристалів (кристалооптика)

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Созданы физические основы и, в результате, новый комбинированный метод рентгеноакустической неразрушающей количественной и впервые многопараметрической диагностики микродефектов нескольких типов в монокристаллах. Разработанная для этой цели теоретическая модель использует открытое авторами явление уникальной чувствительности к характеристикам дефектов как полной интегральной интенсивности динамической дифракции, так и характера ее зависимостей от дифракционных условий, в частности, зависимостей от амплитуды ультразвуковых колебаний. При этом чувствительность и информативность этих зависимостей существенно усиливаются целенаправленным комбинированием измерений в различных других условиях дифракции. Такая возможность принципиально отсутствует при кинематическом рассеянии.

Показаны возможности комбинированной интегральной динамической дифрактометрии для исследования неравномерно распределённых радиационных дефектов, соизмеримых с длиной экстинкции, и эволюции их характеристик в зависимости от дозы облучения.

Створено теоретичну модель динамічної дифракції рентгенівських променів у кристалах з дефектами довільних типів, що вперше враховує ефекти повної (а не лише другого порядку теорії збурень) багатократності розсіяння дифузних і когерентних хвиль на флуктуаційній частині кристалічного потенціалу. Зокрема, одержано вирази для дисперсійних поправок до когерентного та дифузного хвильових полів, що враховують повну багатократність розсіяння, як на періодичній, так і на флуктуаційній частинах кристалічного потенціалу. Показано необхідність і достатність використання зазначених поправок у формулах для інтенсивності дифракції за діагностики дефектів другого класу за М. О. Кривоглазом.