Бази даних

Реферативна база даних - результати пошуку

Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"

Вид пошуку
Сортувати знайдені документи за:
авторомназвоюроком видання
Формат представлення знайдених документів:
повнийстислий
 Знайдено в інших БД:Книжкові видання та компакт-диски (2)
Пошуковий запит: (<.>A=Мищук О$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 10
Представлено документи з 1 до 10

      
Категорія:    
1.

Бакунцева М. В. 
Адсорбция воды и ее влияние на элементный состав высокотемпературного сверхпроводника $E bold roma {(Ві sub 0,8 Рb sub 0,2) sub 2 Sr sub 2 Ca sub 2 Cu sub 3 O sub 10D} / М. В. Бакунцева, Б. М. Горелов, О. А. Мищук // Металлофизика и новейшие технологии. - 2003. - 25, № 1. - С. 67-79. - Бібліогр.: 25 назв. - укp.


Ключ. слова: физическая адсорбция, абсорбция, ВТСП, молекулы H2O , дефектообразование
Індекс рубрикатора НБУВ: В368.31

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 



      
Категорія:    
2.

Бакунцева М. В. 
Перенос дефектов в высокотемпературном сверхпроводнике (Biv0,8DРЬv0,2D)v2DSrv2DCav2DCuv3DOv10D под действием $E bold gamma -облучения / М. В. Бакунцева, М. А. Васильев, Б. М. Горелов, О. А. Мищук // Металлофизика и новейшие технологии. - 2002. - 24, № 1. - С. 41-52. - Библиогр.: 24 назв. - рус.


Ключ. слова: перенос дефектов, коллективные возбуждения, поверхность
Індекс рубрикатора НБУВ: В368.31 + В372.31

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 



      
Категорія:    
3.

Васильев М. А. 
Физико-химическое состояние наноповерхности стоматологического сплава "Целлит-Н" после различных поверхностных обработок / М. А. Васильев, А. И. Сенкевич, Г. И. Прокопенко, О. А. Мищук // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. - 2004. - 2, Вип. 2. - С. 675-680. - Библиогр.: 10 назв. - рус.

Зазначено, що для більш глибокого розуміння причин алергійної природи нестерпності металевих включень у порожнині рота важливе дослідження фізико-хімічного стану їх поверхні. Для аналізу поверхні зразків стоматологічного сплаву "Целлит-Н" на молекулярному рівні після різних впливів і витримки в штучній слині використано метод фотоелектронної спектроскопії. Одержано кількісні характеристики хімічного та фазового складу поверхні після різних видів обробок, вживаних в ортопедичній стоматології.


Ключ. слова: аллергия, стоматологические сплавы, непереносимость зубных протезов, Целлит-Н, поверхностная обработка
Індекс рубрикатора НБУВ: Р668.6с03

Шифр НБУВ: Ж72631 Пошук видання у каталогах НБУВ 

      
Категорія:    
4.

Чигиринец Е. Э. 
Изучение состава поверхности металла, обработанной водными экстрактами косточковых препаратов, методом оже-спектроскопии / Е. Э. Чигиринец, О. А. Мищук, А. П. Стовпченко // Экотехнологии и ресурсосбережение. - 2004. - № 5. - С. 26-30. - Библиогр.: 8 назв. - рус.

Зазначено, що ефективним засобом захисту від корозії зкородованого металу є грунти, що містять порошкові перетворювачі іржі. З метою дослідження механізму їх захисної дії проаналізовано хімічний склад поверхневих шарів, утворених на металі у водних екстрактах натуральних кісточкових порошків за допомогою методу оже-спектроскопії. Установлено, що основними компонентами їх є вуглець, кисень, залізо, у меншій кількості сірка й азот. Захисні властивості шарів тим вище, чим більше в них вуглецю та менше атомів заліза.


Ключ. слова: коррозия, лакокрасочные грунты, порошковые преобразователи ржавчины, косточковые порошки
Індекс рубрикатора НБУВ: К663.41

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж28350 Пошук видання у каталогах НБУВ 

      
Категорія:    
5.

Павелец С. Ю. 
Многослойные варизонные фотоэлектрические преобразователи для ультрафиолетовой фотоэлектроники / С. Ю. Павелец, А. А. Стадник, О. А. Мищук, А. М. Павелец // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника. - 2005. - Вып. 40. - С. 149-154. - Библиогр.: 16 назв. - рус.


Індекс рубрикатора НБУВ: З854-06

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж60673 Пошук видання у каталогах НБУВ 



      
Категорія:    
6.

Бэддис Г.  
Термостимулированный массоперенос и твердотельные реакции в тонкопленочной системе Ni (24 нм)/Ті (5 нм)/Si(001) / Г. Бэддис, С. М. Волошко, Ю. Н. Макогон, А. В. Могилатенко, Е. П. Павлова, С. И. Сидоренко, Г. Ю. Хиннеберг, С. А. Замулко, О. А. Мищук // Металлофизика и новейшие технологии. - 2005. - 27, № 12. - С. 1635-1643. - Бібліогр.: 10 назв. - укp.


Ключ. слова: тонкопленочная система, фаза, концентрация, отжиг
Індекс рубрикатора НБУВ: В379.2 + З843.395-06

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 



      
Категорія:    
7.

Васильев М. А. 
Влияние слабого магнитного поля на химический состав поверхности аморфного сплава CoVB73,6DFeVB3,2DMnVB3,2DSiVB5DBVB15D / М. А. Васильев, Г. Г. Галстян, О. А. Мищук // Металлофизика и новейшие технологии. - 2008. - 30, № 10. - С. 1369-1382. - Библиогр.: 29 назв. - рус.


Індекс рубрикатора НБУВ: К297.025 + В377

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 



      
Категорія:    
8.

Мищук О. В. 
Особенности металлотионеинов двустворчатого моллюска IBAnodonta cygneaD L. в естественных и лабораторных условиях существования / О. В. Мищук, О. Б. Столяр // Гидробиол. журн.. - 2009. - 45, № 3. - С. 65-73. - Библиогр.: 21 назв. - рус.


Індекс рубрикатора НБУВ: Е621.166.24*693.8*725

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж29103 Пошук видання у каталогах НБУВ 



      
Категорія:    
9.

Горбик П. П. 
О распределении оксида алюминия в высокодисперсной оксидной системе AlV2DOV3D - SiOV2D / П. П. Горбик, В. М. Гунько, В. И. Зарко, О. А. Мищук, О. А. Спивак, А. А. Чуйко // Доп. НАН України. - 2004. - № 11. - С. 150-154. - Библиогр.: 10 назв. - рус.


Індекс рубрикатора НБУВ: Г123.231

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж22412/а Пошук видання у каталогах НБУВ 



      
Категорія:    
10.

Максименко Л. С. 
Модуляционная поляриметрия полного внутреннего отражения, нарушенного алмазоподобными пленками / Л. С. Максименко, О. Н. Мищук, И. Е. Матяш, Б. К. Сердега, Е. Г. Костин, Б. П. Полозов, О. А. Федорович, Г. К. Савинков // Технология и конструирование в электрон. аппаратуре. - 2013. - № 1. - С. 3-8. - Библиогр.: 16 назв. - рус.

Исследованы алмазоподобные пленки, специально приготовленные при различных технологических условиях. Введен параметр ρ, называемый поляризационной разностью. Из спектральных характеристик параметра ρ обнаружено, что взаимодействие электромагнитного излучения с электронной системой образцов, которое происходит в используемом спектральном диапазоне, состоит из двух поверхностных резонансов - локального и поляритонного, различающихся частотой и временем релаксации. Сделан вывод о том, что соотношение амплитуд резонансов определяется структурными свойствами образцов, что свидетельствуют о перспективности метода модуляционной поляриметрии для диагностики структурной однородности композитных нанокластерных пленок.

Досліджено алмазоподібні плівки, спеціально приготовлені за різних технологічних умов. Запропоновано параметр ρ, що названий поляризаційною різницею. Зі спектральних характеристик параметра ρ виявлено, що взаємодія електромагнітного випромінювання з електронною системою зразків, яке відбувається у використовуваному спектральному діапазоні, складається з двох поверхневих резонансів - локального та поляритонного, що різняться частотою та часом релаксації. Зроблено висновок, що співвідношення амплітуд резонансу визначається структурними властивостями зразків, що свідчить про перспективність методу модуляційної поляриметрії для діагностики структурної однорідності композитних нанокластерних плівок.

This article presents research results on diamond-like films produced under different technological conditions. The parameter ρ - polarization difference - has been introduced. It has been found from spectral features of the parameter ρ that the interaction of electromagnetic radiation with the electronic system of specimens, which occurs in the used spectral range, consists of local and polariton surface resonances, differing in frequencies and times of relaxations. The autors concluded that the correlation in resonance intensity is defined by the structural characteristics of the specimens. These results show that modulation polarimetry is a perspective technique for diagnostics of the structural homogeneity of composite nanocluster films.


Індекс рубрикатора НБУВ: В372.6 + В374.4

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж14479 Пошук видання у каталогах НБУВ 
 

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського