![](/irbis64r_81/images/db_navy.gif) Віртуальна довідка ![](/irbis64r_81/images/db_navy.gif) Тематичний інтернет-навігатор ![](/irbis64r_81/images/db_navy.gif) Наукова електронна бібліотека ![](/irbis64r_81/images/db_navy.gif) Автореферати дисертацій ![](/irbis64r_81/images/db_navy.gif) Реферативна база даних ![](/irbis64r_81/images/db_navy.gif) Книжкові видання та компакт-диски ![](/irbis64r_81/images/db_navy.gif) Журнали та продовжувані видання
![Mozilla Firefox](../../ico/mf.png) |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Формат представлення знайдених документів: | повний | стислий |
Пошуковий запит: (<.>A=Мінов Є$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 2
Представлено документи з 1 до 2
|
| | | | |
1. |
Д'яченко Л. І. Система аналізу дефектів вирощування напівпровідникових кристалів / Л. І. Д'яченко, Є. В. Мінов, С. Е. Остапов, І. Й. Наконечний, В. І. Буркут, О. В. Копач, П. М. Фочук // Системи оброб. інформації. - 2012. - Вип. 4, т. 1. - С. 16-20. - Бібліогр.: 5 назв. - укp.Розроблено програмне забезпечення для розпізнавання фотографій дефектної підсистеми, які створюються під час сканування реальних напівпровідникових кристалів в ІЧ-променях. Наведено структурну схему та опис установки, яка використовується для одержання знімків, а також описано алгоритм розпізнавання ІЧ фотографій. Наведено способи перевірки правильності розпізнавання та запропоновано новий метод тестування коректності роботи існуючих програмних комплексів для моделювання структури та параметрів підсистеми дефектів вирощування напівпровідникових кристалів. Індекс рубрикатора НБУВ: З843.3 + З852-06 + В379.251.4
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж70474 Пошук видання у каталогах НБУВ
|
| | | | |
2. |
Мінов Є. В. Програмне забезпечення для визначення розміру наночастинок шляхом аналізу траєкторій їх руху / Є. В. Мінов, С. Е. Остапов, Ю. Б. Халавка, Г. М. Окрепка, П. М. Фочук // Зб. наук. пр. Харк. ун-ту Повітр. сил. - 2013. - Вип. 4. - С. 132-136. - Бібліогр.: 7 назв. - укp.Описано програмне забезпечення для визначення параметрів колоїдних наночастинок металів, зокрема, їх діаметра та розподілу за розмірами. В основі алгоритму лежить аналіз траєкторій броунівського руху наночастинок. Для візуалізації частинок використано устаткування для нанотрекінгу із підсвіткою білим світлом. Індекс рубрикатора НБУВ: В365.112 в641
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж70455 Пошук видання у каталогах НБУВ
|
|
|