Віртуальна довідка Тематичний інтернет-навігатор Наукова електронна бібліотека Автореферати дисертацій Реферативна база даних Книжкові видання та компакт-диски Журнали та продовжувані видання
|
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Формат представлення знайдених документів: | повний | стислий |
Пошуковий запит: (<.>A=Grigonis A$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 3
Представлено документи з 1 до 3
|
| | | | |
1. |
Rutkuniene Z. Formation of Multilayer Structures on the Silicon Surface after Etching in Plasma = Формування багатошарових структур на силіконовій поверхні після протравлення в плазмі / Z. Rutkuniene, A. Grigonis, A. Reza, J. G. Babonas, A. Jotautis // Фізика і хімія твердого тіла. - 2003. - 4, № 3. - С. 407-413. - Библиогр.: 20 назв. - англ. Ключ. слова: plasma etching, ellipsometry, chemical composition Індекс рубрикатора НБУВ: В379.225
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж26618 Пошук видання у каталогах НБУВ
|
| | | | |
2. |
Grigonis A. Changes on the silicon surface radiating it by halocarbon and/or hydrogen Plasma = Зміни на кремнієвій поверхні, опроміненій гало-вуглецевою і/або водневою плазмою / A. Grigonis, Z. Rutkuniene, H. Manikowski, M. Kulik // Фізика і хімія твердого тіла. - 2004. - 5, № 2. - С. 229-233. - Библиогр.: 22 назв. - англ. Ключ. слова: silicon, surface, plasma Індекс рубрикатора НБУВ: Г714 + Г59 + В379.2
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж26618 Пошук видання у каталогах НБУВ
|
| | | | |
3. |
Silinskas M. The mechanical and optical properties of A-C:H films deposited from acetylene using direct ion beam deposition method = Механічні і оптичні властивості осаджених з ацетилену плівок A-C:H, з використанням методу направленого бомбардування іонами / M. Silinskas, A. Grigonis, Z. Rutkuniene, J. Maniks, V. Kulikauskas // Фізика і хімія твердого тіла. - 2005. - 6, № 3. - С. 394-397. - Библиогр.: 12 назв. - англ. Ключ. слова: amorphous hydrogenated carbon films, Raman spectroscopy, Rutherford backscattering spectroscopy, ellipsometry, microhardness Індекс рубрикатора НБУВ: В372.6
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж26618 Пошук видання у каталогах НБУВ
|
|
|