Методами поляризаційної мікроскопії та двопроменезаломлення експериментально досліджено температурну стабільність орієнтації рідкого кристала (РК) та рідкокристалічного полімеру (РКП) у сандвічах РКП - РК - РКП. Показано, що орієнтований стан системи зникає лише тоді, коли її витримували за температур, що відповідають ізотропному стану обох компонент. Такий результат пояснено тим, що орієнтований стан міжфазного шару підтримується за наявності впорядкування в об'ємі хоча б однієї компоненти. У рамках простої теоретичної моделі, побудованої в наближенні теорії середнього поля, показано, що впорядкування у міжфазних шарах може бути зумовлене анізотропною частиною взаємодії між молекулами РК та РКП.

Розглянуто структурні особливості й електрооптику капсельованих рідких кристалів (КРК) з малим вмістом неорганічних колоїдних наночастинок. Показано, що під час фазової сепарації наночастинки в основному захоплюються полімером і є зародками полімеризації. Поглинуті наночастинки змінюють показник заломлення полімеру й у такий спосіб впливають на різницю показників заломлення полімеру й рідкого кристала. Це змінює характеристики світлорозсіяння КРК. Завдяки оптимізації, порівнюючи із традиційними КРК, можна одержати наповнені наночастинками КРК з покращаною характеристикою огляду й типовим електрооптичним контрастом.

Шляхом використання методу УФ поглинання та результатів еліпсометричних вимірювань вивчено просторові орієнтаційні структури в шарах рідкокристалічних полімерів. Установлено, що під дією поляризованого УФ випромінювання азобензольні фрагменти орієнтуються переважно в площині. Отримано оцінку для компонентів тензора параметра порядку в початковому стані та після різних доз опромінювання. Виявлено одновісне та двовісне впорядкування азобензольних хромофорних груп, причому двовісність спостережено в проміжній стадії опромінювання, тоді як одновісний стан реалізується в режимі насичення. Запропонована теорія враховує двовісність індукованих структур і добре описує експериментальні залежності компонентів параметра порядку від часу опромінювання.

Індекс рубрикатора НБУВ: В182.1

Рубрики:

Топологія перших трьох вимірювань

Шифр НБУВ: Ж41243 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Індекс рубрикатора НБУВ: В162.4

Рубрики:

Оператори у гільбертовому просторі

Шифр НБУВ: Ж41243 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Індекс рубрикатора НБУВ: К202.6 + В379.226 + В379.271.7

Рубрики:

Тонкі шари (плівки) металів і сплавів

Тонкі шари напівпровідників

Діелектричні властивості напівпровідників

Шифр НБУВ: Ж100357 Пошук видання у каталогах НБУВ