Віртуальна довідка Тематичний інтернет-навігатор Наукова електронна бібліотека Автореферати дисертацій Реферативна база даних Книжкові видання та компакт-диски Журнали та продовжувані видання
|
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Формат представлення знайдених документів: | повний | стислий |
Пошуковий запит: (<.>U=В372.134 в641.8,022$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 2
Представлено документи з 1 до 2
|
| | | | |
1. |
Скакунова О.С. Динамічні ефекти дифузного розсіяння рентгенівських променів в складних гетероструктурах: Автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.07 / О.С. Скакунова ; Ін-т металофізики ім. Г.В.Курдюмова НАН України. — К., 2005. — 20 с.: рис. — укp.Вперше розроблено теоретичну модель дифракції з урахуванням динамічних ефектів когерентного та дифузного розсіяння в гетерогенних епітаксійних, а також іонно-імплантованих кристалічних структурах. Надана модель самоузгоджено враховує для кожного шару наявність в інтенсивності дифракції динамічної дифузної компоненти, а також екстинкцію когерентної компоненти за рахунок дифузного розсіяння. Вперше враховано особливості динамічної взаємодії між шарами, що зведена до відповідних рекурентних співвідношень між когерентними складовими коефіцієнтів відбиття окремих шарів. В цій моделі враховано інтерференцію когерентних хвиль, що розсіюються різними шарами та підкладкою в багатошарових епітаксійних структурах. У разі врахування амплітуди розсіяння кожним неоднорідним шаром модель передбачає його розбиття на однорідні підшари. Вперше здійснено повну адекватну кількісну пошарову характеризацію вказаних гетероструктур з одержанням нової інформації про характеристики дефектів, ефекти сегрегації та взаємодифузії, а також уточнити хімічний склад, товщини окремих шарів, профілі деформації. Скачати повний текст Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134 в641.8,022 + Ж304-1 с38 + Шифр НБУВ: РА339144
Рубрики:
|
| | | | |
2. |
Струк А. Я. Особливості формування дифракційного контрасту дислокацій та їх комплексів в кристалах Si у секційній та проекційній X-променевій топографії: автореф. дис. ... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.07 / А. Я. Струк ; Чернів. нац. ун-т ім. Ю.Федьковича. — Чернівці, 2010. — 20 с. — укp.Запропоновано модель дислокаційної петлі, яка складається з окремих сегментів 60-градусних дислокацій. Встановлено, що внесок кожного сегмента у формування топографічного зображення дислокаційної петлі не є адитивним. Досліджено специфічні ефекти каналювання X-хвиль у випадку особливого "стирчкового" положення крайової дислокації в палатці Бормана. Виявлено особливості формування товщинних осциляцій інтенсивності - поблизу лінії дислокації виникає просторове квазіперіодичне хвильове поле з макроперіодом у декілька екстинкційних відстаней. Досліджено вплив комбінованого поля деформацій від дислокацій та макроскопічних пружних деформацій на просторові розподіли інтенсивності в палатці Бормана. Визначено, що найбільші трансформації товщиних розподілів інтенсивності та секційних картин відбуваються у випадку X-променевого акустичного резонансу. Встановлено, що еквідистантний згин пригнічує ефекти каналювання та збільшує області прояву кінематичного зображення дислокації. Проведено співставлення топографічних X-хвильових зображень дислокацій та їх комплексів (дислокаційних скупчень та меж) на підставі числових розв'язків рівнянь Такагі та рівнянь Інденбома-Чамрова. Скачати повний текст Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134 в641.8,022 + В379.22 в641.8,022 Шифр НБУВ: РА375779 Пошук видання у каталогах НБУВ
Рубрики:
|
|
|