Пошуковий запит: (<.>U=З844$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 76
Представлено документи з 1 до 20
|
| |
1. |
Волкова Т.В. Автоматизація та удосконалення візуального контролю у технологічних процесах виготовлення комутаційних плат на основі методів кодування зображень : Автореф. дис... канд. техн. наук: 05.13.07. — Севастополь, 1998. — 16 с. — укp.
Рубрики:
|
2. |
Коваленко М.Й. Вплив опромінення на компоненти радіоелектронної апаратури і розробка методів підвищення їх радіаційної стійкості : Автореф. дис... канд. техн. наук: 05.27.06. — Х., 1999. — 18 с. — укp.
Рубрики:
|
3. |
Денисенко Є.Л. Розвиток теорії і розробка методології логічного синтезу НВІС на основі багаторівневих автоматних моделей : Автореф. дис... д-ра техн. наук: 05.13.05. — К., 1999. — 32 с. — укp.
Рубрики:
|
4. |
Гладун М.Р. Твердотільні інтегральні сенсорні пристрої на основі перетворювачів магнетного поля : Автореф. дис... канд. техн. наук: 05.27.01. — Л., 1999. — 19 с. — укp.
Рубрики:
|
5. |
Пархоменко А.В. Розробка комплексних моделей елементної бази МЕА для систем автоматизації проектування : Автореф. дис... канд. техн. наук: 05.13.12. — Л., 1999. — 19 с. — укp.
|
6. |
Кукла О.Л. Механізми переносу заряду та речовини у мікроелектронних сенсорах та сенсорних масивах для контролю токсичних речовин у оточуючому середовищі : Автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.01. — К., 2000. — 19 с. — укp.
Рубрики:
|
7. |
Данчишин І.В. Розробка методів та засобів забезпечення технологічності МОН-структур мікроелектронних пристроїв в умовах автоматизованого виробництва : Автореф. дис... канд. техн. наук: 05.27.01. — Чернівці, 2000. — 17 с. — укp.
Рубрики:
|
8. |
Суприган В.А. Схемотехнічні засоби побудови оптоелектронних інтегральних схем обробки зображень : Автореф. дис... канд. техн. наук: 05.13.05. — Вінниця, 2000. — 19 с. — укp.
Рубрики:
|
9. |
Таран Є.П. Математична модель та механізм впливу імпульсних електромагнітних полів на мікроструктури : Автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.03. — Х., 2000. — 19 с. — укp.
Рубрики:
|
10. |
Максимова Модифікація структурних характеристик поверхні (001) кремнію в мікроелектронній технології : Автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.01. — О., 2000. — 20 с. — укp.
Рубрики:
|
11. |
Назар А.В. Розробка методів та засобів для побудови автоматизованої системи технологічного проектування кристалів напівпровідникових ІС : Автореф. дис... канд. техн. наук: 05.13.12. — Л., 2000. — 19 с. — укp.
Рубрики:
|
12. |
Мельник Р.А. Методи та алгоритми ієрархічного проектування площинної та просторової топології НВІС : Автореф. дис... д-ра техн. наук: 05.13.12. — Л., 2001. — 36 с. — укp.
Рубрики:
|
13. |
Бататампа Вітанаге Сісіра Джанака Гунавардена Якість поверхонь деталей з магнітном'яких сплавів при шліфуванні інструментами із надтвердих матеріалів : Автореф. дис... канд. техн. наук: 05.02.08. — К., 2001. — 19 с. — укp.
Рубрики:
|
14. |
Черкашин В.А. Методи синтезу композиційних мікропрограмних пристроїв керування : Автореф. дис... канд. техн. наук: 05.13.13. — Донецьк, 2001. — 15 с. — укp.
Рубрики:
|
15. |
Левус Є.В. Методи та засоби теплового проектування МЕП з кристалами на жорстких виводах : Автореф. дис... канд. техн. наук: 05.13.12. — Л., 2002. — 20 с.: рис. — укp.
Рубрики:
|
16. |
Скворцова О.Б. Проектування тестів для послідовносних функціональних схем, що реалізовані у програмованій логіці : Автореф. дис... канд. техн. наук: 05.13.12. — Х., 2002. — 20 с. — укp.
Рубрики:
|
17. |
Петров Д.В. Мережева система теплового проектування МЕП, багатоваріантних стосовно конструктивно-технологічного виконання : Автореф. дис... канд. техн. наук: 05.13.12. — Л., 2002. — 19 с. — укp.
Рубрики:
|
18. |
Озірковський Л.Д. Розробка засобів оцінки ефективності алгоритмів пошуку і виявлення цілей прицільних радіоелектронних комплексів : Автореф. дис... канд. тенх. наук: 05.12.17. — Л., 2002. — 20 с. — укp.
Рубрики:
|
19. |
Коротєєва Т.О. Моделі та алгоритми ієрархічного трасування НВІС з декомпозицією дво- і тривимірного конструктивного простору : Автореф. дис... канд. техн. наук: 05.13.12. — Л., 2002. — 21 с. — укp.
Рубрики:
|
20. |
Поздєєв С.В. Удосконалення еліпсометричного методу для атестації модифікованих електронним променем поверхонь оптичного скла : Автореф. дис... канд. техн. наук: 05.11.13. — Черкаси, 2002. — 20 с. — укp.
Рубрики:
|
| |