Пошуковий запит: (<.>U=В381.566$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 24
Представлено документи з 1 до 20
|
| |
1. |
Остафійчук Б. К. Вплив вторинних процесів та ефекту кратера на роздільну здатність методу вторинної іонної мас-спектрометрії. — 2000 // Металлофизика и новейшие технологии.
|
2. |
Сорока В. І. Можливості використання тандемних (електростатичних) прискорювачів для прикладних досліджень. — К., 1999 - (Препр. / НАН України. Ін-т ядер. дослідж; 99-1).
|
3. |
Борискин А. И. Исследование временных и амплитудных характеристик импульсного ионного тока источника ионов лазерного масс-спектрометра. — 2002 // Вісн. Сум. держ. ун-ту. Сер. Техн. науки.
|
4. |
Батурин В. А. Особенности программного обеспечения для однополюсных масс-спектрометров типа МХ-7304А. — 2003 // Вісн. Сум. держ. ун-ту. Сер. Фізика, математика, механіка.
|
5. |
Скрипченко А. Н. Регистрация масс-спектра в лазерном масс-спектрометре с помощью вторичного электронного умножителя. — 2002 // Вісн. Сум. держ. ун-ту. Сер. Техн. науки.
|
6. |
Батурин В. А. Определение коэффициента пропускания ионов монопольных масс-спектрометров типа МХ7304А. — 2007 // Вісн. Сум. держ. ун-ту. Сер. Фізика, математика, механіка.
|
7. |
Андрухович С. К. Расширение возможностей <$E bold {4 pi}>-гамма-спектрометров "Припять". — 2007 // Ядер. фізика та енергетика.
|
8. |
Misiuk A. Silicon based materials for application in spintronics. — 2007 // Сенсор. електрон. і мікросистем. технології.
|
9. |
Єрьомін С. О. Мас-спектрометрія нейтральних частинок, розпилених іонами з енергією до 170 кеВ : автореф. дис. ... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.01. — Суми, 2010
|
10. |
Батурин В. А. Масс-спектрометрическое исследование процессов ионного распыления при высоких энергиях первичных ионов. — 2009 // Журн. нано- та електрон. фізики.
|
11. |
Перегудов О. Н. Оценка ширины пучка в магнитном масс-спектрометре. — 2010 // Журн. нано- та електрон. фізики.
|
12. |
Scharfschwerdt B. Photodissociation and photochemistry of <$E bold roman {V sup + (H sub 2 O) sub n}>, n = 1 - 4, in the 360 - 680 nm region // Физика низ. температур. - 2012. - 38, N 8 (спец. вып.).
|
13. |
Перегудов О. М. Моделювання фізичних процесів формування аналітичного сигналу секторних магнітних та часопролітних мас-спектрометрів : автореф. дис. ... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.01. — Суми, 2012
|
14. |
Москаленко В. Б. Состояние и перспективы развития центра ускорительной масс-спектрометрии Института прикладной физики НАН Украины // Наука та інновації. - 2014. - № 2.
|
15. |
Sofronov D. S. Mass-spectrometric study of thermal desorption processes at vacuum heating of lithium iodide used to LiI(Eu) crystal growing // Functional Materials. - 2007. - 14, № 2.
|
16. |
Sofronov D. S. Mass-spectrometric studies of the charge for CdWO4 crystal growth // Functional Materials. - 2009. - 16, № 1.
|
17. |
Покровський В. О. Десорбційна мас-спектрометрія: фізика, фізична хімія, хімія поверхні // Вісн. НАН України. - 2012. - № 12.
|
18. |
Гаврюшенко Д. А. Вплив радіаційного опромінення на фізичні властивості рідин // Укр. фіз. журн.. - 2015. - 60, № 8.
|
19. |
Levon A. I. Spectroscopy of 232U in the (p, t) reaction: Experimental data // Ядер. фізика та енергетика. - 2016. - 17, № 3.
|
20. |
Косуля О. В. Розробка та виготовлення експериментальних зразків приладів для аналізу багатоелементних за складом речовин в реальному масштабі часу в складі мас-спектрометра // Журн. нано- та електрон. фізики. - 2016. - 8, № 4 (ч. 1).
|
| |