РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Сортувати знайдені документи за:
авторомназвоюроком виданнявидом документа
 Знайдено в інших БД:Наукова періодика України (1)
Пошуковий запит: (<.>A=Odarych V$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 5
Представлено документи з 1 до 5
1.

Odarych V. A. Determination of parameters of cadmium telluride films on silicon by the methods of main angle and multiangular ellipsometry // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2006. - 9, № 1.
2.

Odarych V. A. Investigation of cadmium telluride films on silicon substrate // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2005. - 8, № 4.
3.

Odarych V. A. Determination of the surface region structure from ellipsometric data // Functional Materials. - 2000. - 7, № 3.
4.

Kornienko K. N. Determination of optical parameters of CdTe films by principal angle ellypsometry // Functional Materials. - 2006. - 13, № 1.
5.

Odarych V. A. Optical parameters of the film naturally formed on the surface of cadmium telluride single crystals // Functional Materials. - 2013. - 20, № 1.
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського