РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»
НОВІ
НАДХОДЖЕННЯ
ПОШУК
РУБРИКАТОР

Бази даних

Реферативна база даних - результати пошуку

Книжкові видання та компакт-диски
Журнали та продовжувані видання
Автореферати дисертацій
Реферативна база даних
Наукова періодика України
Тематичний навігатор
Авторитетний файл імен осіб
Вид пошуку
у знайденому
Сортувати знайдені документи за:
авторомназвоюроком виданнявидом документа
 Знайдено в інших БД:Книжкові видання та компакт-диски (1)Наукова періодика України (11)
Пошуковий запит: (<.>A=Фодчук И$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 54
Представлено документи з 1 до 20
...
1.

Фодчук И. М. Влияние одномерных деформаций на формирование изображений микродефектов на рентгеновских секционных топограммах. — 2000 // Металлофизика и новейшие технологии.
2.

Раранский Н. Д. Маятниковые полосы в искаженных кристаллах. — 2000 // Металлофизика и новейшие технологии.
3.

Фодчук И. М. Влияние одномерных деформаций на эффект Бормана в случае трехволновой дифракции рентгеновских лучей. — 1999 // Металлофизика и новейшие технологии.
4.

Гультай Л. Л. Влияние периодических деформаций кристалла на трехволновое аномальное прохождение рентгеновских лучей. — 1999 // Металлофизика и новейшие технологии.
5.

Раранский Н. Д. Изображения микродефектов на рентгеновских секционных топограммах в акустически возбужденном кристалле. — 2000 // Металлофизика и новейшие технологии.
6.

Фодчук И. М. Исследование структурных изменений в кристаллах при ионной имплантации. — 1999 // Металлофизика и новейшие технологии.
7.

Докторович И. В. Оптический аттенюатор. — 2005 // Технология и конструирование в электрон. аппаратуре.
8.

Докторович И. В. Методика калибровки УФ-радиомеров энергетической освещенности. — 2008 // Технология и конструирование в электрон. аппаратуре.
9.

Фодчук И. М. Метрологические характеристики яркомера "Тензор-28". — 2007 // Технология и конструирование в электрон. аппаратуре.
10.

Новиков С. Н. Влияние акустического поля на кристаллы, содержащие дислокации и микродефекты. — 2002 // Металлофизика и новейшие технологии.
11.

Борча М. Д. Влияние эффекта окольного возбуждения на многоволновое рентгеновское аномальное прохождение в бинарных кристаллах с деформированным слоем. — 2002 // Металлофизика и новейшие технологии.
12.

Молодкин В. Б. Двухкристальная рентгеновская дифрактометрия наноразмерных многослойных систем. — 2003 // Металлофизика и новейшие технологии.
13.

Фодчук И. М. Муаровые изображения дефектов в рентгеновской трехкристальной интерферометрии. — 2002 // Металлофизика и новейшие технологии.
14.

Баловсяк С. В. Определение параметров рельефа поверхности твердого тела в случае полного внешнего отражения рентгеновских лучей. — 2003 // Металлофизика и новейшие технологии.
15.

Баловсяк С. В. Определение рельефа поверхности кристаллов методом дифференциальных кривых полного внешнего отражения рентгеновских лучей. — 2003 // Металлофизика и новейшие технологии.
16.

Фодчук И. М. Структура многослойных систем InxGa1-xAs1-yN/GaAs по данным двухкристальной рентгеновской дифрактометрии. — 2003 // Металлофизика и новейшие технологии.
17.

Гимчинский А. Г. Структурные изменения в кристаллах после облучения высокоэнергетическими электронами. — 2002 // Металлофизика и новейшие технологии.
18.

Борча М. Д. Формирование профиля интенсивности линии Косселя в кристаллах с периодическим распределением деформации. — 2004 // Металлофизика и новейшие технологии.
19.

Литвинчук И. В. Структурные изменения в пористых кристаллах после ионной имплантации. — 2004 // Металлофизика и новейшие технологии.
20.

Венгер В. Н. Изменение дефектной структуры кристаллов после облучения высокоэнергетическими электронами и <$E bold gamma>-квантами. — 2006 // Металлофизика и новейшие технологии.
...
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського