РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
у знайденому
Сортувати знайдені документи за:
авторомназвоюроком виданнявидом документа
 Знайдено в інших БД:Книжкові видання та компакт-диски (1)Журнали та продовжувані видання (3)Наукова періодика України (21)
Пошуковий запит: (<.>A=Sizov F$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 36
Представлено документи з 1 до 20
...
1.

Sizov F. F. Brief history of THz and IR technologies // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2019. - 22, № 1.
2.

Melezhik E. O. Composition and concentration dependences of electron mobility in semi-metal Hg1-xCdxTe quantum wells // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2015. - 18, № 3.
3.

Sizov F. F. Detection of IR and sub/THz radiation using MCT thin layer structures: design of the chip, optical elements and antenna pattern // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2016. - 19, № 2.
4.

Odarych V. A. Determination of parameters of cadmium telluride films on silicon by the methods of main angle and multiangular ellipsometry // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2006. - 9, № 1.
5.

Savkina R. K. Dislocations as internal sources of infrared radiation in crystals subjected to ultrasonic influence // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2007. - 10, № 3.
6.

Melezhik E. O. Dynamical screening function and plasmons in the wide HgTe quantum wells at high temperatures // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2018. - 21, № 2.
7.

Melezhik Ye. O. Electron relaxation and mobility in the inverted band quantum well CdTe/Hg1-xCdxTe/CdTe // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2014. - 17, № 1.
8.

Maslov V. P. Ellipsometric control of quality of polished MgF2 optical ceramics // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2004. - 7, № 2.
9.

Sizov FHgCdTe photodiodes for infrared mid-wavelength region // Сенсор. електроніка і мікросистем. технології. - 2016. - 13, № 1.
10.

Kukhtaruk N. I. In - HgCdTe - In structures with symmetric nonlinear I - V characteristics for sub-THz direct detection // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2017. - 20, № 2.
11.

Maslov V. P. Influence of elastic deformation on the residual ellipticity of polished optical materials // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2003. - 6, № 4.
12.

Maslov V. P. Influence of elastic deformation on the residual ellipticity of polished optical materials // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2004. - 7, № 2.
13.

Sizov F. F. Infrared and terahertz in biomedicine // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2017. - 20, № 3.
14.

Tsybrii Z. F. Infrared blocking materials // Доп. НАН України. - 2020. - № 2.
15.

Sizov F. F. Infrared detectors: оutlook and means // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2000. - 3, № 1.
16.

Odarych V. A. Investigation of cadmium telluride films on silicon substrate // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2005. - 8, № 4.
17.

Sizov FIR region challenges: Photon or thermal detectors? Outlook and means // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2012. - 15, № 3.
18.

Sizov F. F. IR sensor readout devices with source input circuits. — 1999 // Фізика напівпровідників, квант. електроніка та оптоелектроніка.
19.

Savkina R. K. Layered structure formation in <$E bold {{roman Hg} sub 1-x {roman Cd} sub x roman Te}> films after high-frequency sonication // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2006. - 9, № 4.
20.

Sizov F.  Nanoindentation-induced phase transformations in HgCdTe epitaxial heterostructures. — 2005 // Укр. фіз. журн.
...
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського