Пошуковий запит: (<.>U=з844.1-06$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 47
Представлено документи з 1 до 20
|
| |
1. |
Tsibulskiy L. Yu. Numerical calculation of temperature distribution in crucible of induction evaporator with magnetic field concentrator // Вісн. Нац. техн. ун-ту України "КПІ". Сер. Приладобудування. - 2015. - Вип. 50.
|
2. |
Білинський Й. Й. Класифікація оптико-електронних координатно-вимірювальних систем // Вісн. Вінниц. політехн. ін-ту. - 2014. - № 3.
|
3. |
Данько В. А. Фотолітографія на реверсивних та перехідних фотостимульованих структурних перетвореннях у ХСН (огляд) // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника : межвед. сб. науч. тр. - 2015. - Вып. 50.
|
4. |
Salenko O. About some results of processing SiC-microarrays by hydroabrasive precision jet // Вісн. Нац. техн. ун-ту України "КПІ". Сер. Машинобудування. - 2013. - Вип. 67.
|
5. |
Кравченко Ю. С. Шляхи підвищення ефективності контролю і управління плазмохімічними процесами // Вісн. Вінниц. політехн. ін-ту. - 2007. - № 6.
|
6. |
Балакирева И. А. Оптимизация настройки многономенклатурного технологического процесса со специальными ограничениями. — 2004 // Пр. Одес. політехн. ун-ту.
|
7. |
Воронов А. А. Метод покрытия прямоугольниками объектов топологии микросхем, основанный на использовании обобщенной диаграммы Вороного. — 2009 // Искусств. интеллект.
|
8. |
Спирин В. Г. Многоуровневые платы с толстопленочной полимерной изоляцией // Технология и конструирование в электрон. аппаратуре. - 2012. - № 5.
|
9. |
Клищенко Р. Е. Электромиграционная очистка гальваношлама от ионов меди. — 2010 // Химия и технология воды.
|
10. |
Nevliudov I. A method of monitoring the functional surfaces of the micro-opto-electro-mechanical systems' components // Наука і техніка Повітр. сил Збройн. сил України. - 2020. - № 3.
|
11. |
Домбругов М. Р. Моделирование явления инверсии градиента профиля алюминия при жидкофазной эпитаксии гетероструктур GaAl(P, As, Sb) // Мікросистеми, Електроніка та Акустика. - 2019. - 24, № 1.
|
12. |
Kuprin A. S. Effect of Deuterium ion implantation dose on microstructure and nanomechanical properties of Silicon // J. of Nano- and Electronic Physics. - 2022. - 14, № 1.
|
13. |
Mezouar R. Effect of vacuum annealing temperature on the binary system Ni/Si(100) // J. of Nano- and Electronic Physics. - 2020. - 12, № 6.
|
14. |
Vimal Kumar Deshmukh Instantaneous fabrication of thin MEMS features by copper electrodeposition using modified inkjet printer // J. of Nano- and Electronic Physics. - 2020. - 12, № 2.
|
15. |
Палагін В. А. Методологічні основи проектування технолоій виробництва компонентів мікроелектромеханічних систем : автореф. дис. ... д-ра техн. наук : 05.27.06. — Харків, 2016
|
16. |
Филатов Ю. Д. Мониторинг точности формы плоских поверхностей в процессе полирования деталей оптики и микроэлектроники // Сверхтвердые материалы. - 2017. - № 4.
|
17. |
Лупина Б. І. Мікромеханічні терморезисторні перетворювачі : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.27.01. — Київ, 2017
|
18. |
Невлюдов І. Ш. Дослідження напружено-деформованого стану поліімідних комунікаційних структур на прикладі гнучкого шлейфу // Проблеми тертя та зношування. - 2019. - № 2.
|
19. |
Гусак А. М. Дифузійно-контрольована еволюція морфології в металевих з'єднаннях та прилюткових кульках при електро-, термоміграції та оплавленні. — 2009 // Металлофизика и новейшие технологии.
|
20. |
Спирин В. Г. Перспективы развития тонкопленочных микросборок. — 2005 // Технология и конструирование в электрон. аппаратуре.
|
| |